Product Demonstration
符合標(biāo)準(zhǔn):
MIL-STD-883D、GJB597等試驗標(biāo)準(zhǔn)。
適用范圍:
適用于各種封裝形式的78XX、79XX、117、137、200等系列的集成穩(wěn)壓電路進行高溫條件下壽命老化。
技術(shù)特點:
一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗參數(shù)的器件同時老化。
試驗條件可從老化器件數(shù)據(jù)庫直接調(diào)出，方便操作。
電子負載工作電流，試驗電壓可程控設(shè)定。
電子負載具有雙向性。
可監(jiān)測全過程試驗器件的結(jié)溫Tj(此功能非標(biāo)配)。
